(解説)
1.c管理図について、説明して行きます。
2.c管理図は、欠点の管理で対象範囲が一定の時に
使用するのが特徴です。
・具体例1:一定面積における、フィルムのキズ数
・具体例2:一定期間における、機械の故障回数
3.c管理図のみとなっています。
4.品質特性として、欠点数に使用します。
(解説)
1.サンプリングと測定について、説明して行きます。
2.1回のサンプリングで、n範囲のサンプルを採取し
、測定を行います。
3.これをk回繰り返します。
4.以下の方法となります。
・群の大きさ: n(目安欠点数1〜5)
・群の数 : k(目安20〜25)
・測定回数 : n×k
5.群の大きさn(1回のサンプリングで採取する範囲
)、群の数k(サンプリングの繰り返し数)の違い
に注意して下さい。
6.左表を作成し、欠点数の箇所にデータを記入し
ます。
(解説)
1.中心線CLの算出について、説明して行きます。
2.対象は、群毎の欠点数cとなります。よって、
算出は1回実施します。
3.群毎の欠点数cの平均値cbarを求めます。
CL=cbarとなります。
4.中心線CLは、測定値の2桁下まで算出します。
5.計算例は、以下の通りです。
・CL=cbar
=(c1+c2+・・・+ck)/k
(解説)
1.管理限界線UCL、LCLの算出について、説明
して行きます。
2.管理限界線UCL、LCLは、cbarを使用して
算出します。
3.c管理図の場合
・UCL=cbar+3cbar0・5
・LCL=cbar−3cbar0・5
(解説)
1.管理図の作成について、説明して行きます。
2.上記の結果を基に、c管理図を作成します。
3.c管理図の作成
・左図の様に、c管理図を作成します。
・異常判定ルールで異常の有無を調べます。
異常は有りませんでした。
4.工程が安定しているかどうか
・上記の結果より、群間変動は無いです。
・よって、工程異常は無いと判断します。